五月婷婷丁香,av九七超碰,精品人伦一区二区三区四区下载,人妻少妇一区二区AV

<style id="s3qtt"></style>
<center id="s3qtt"><sup id="s3qtt"><nobr id="s3qtt"></nobr></sup></center>

    1. <rp id="s3qtt"></rp>
        1. <p id="s3qtt"></p>
            銷售咨詢熱線:
            13912479193
            產(chǎn)品中心
            首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 元器件高低溫測試機(jī) > 半導(dǎo)體元器件Chiller,無錫冠亞芯片測試

            半導(dǎo)體元器件Chiller,無錫冠亞芯片測試

            簡要描述:半導(dǎo)體元器件Chiller,無錫冠亞芯片測試的典型應(yīng)用:
            適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

            • 產(chǎn)品型號(hào):TES-4555
            • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
            • 更新時(shí)間:2025-01-07
            • 訪  問  量:1495
            詳情介紹
            品牌LNEYA/無錫冠亞產(chǎn)地類別國產(chǎn)
            應(yīng)用領(lǐng)域石油,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣

             元器件測試用設(shè)備

             

            適合元器件測試用設(shè)備

            在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

             

            元器件測試用設(shè)備

             

            無錫冠亞積探索和研究元件測試系統(tǒng),主要用于半導(dǎo)體測試中的溫度測試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-92℃~250℃,解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題。該產(chǎn)品適用于電子元器件的溫度控制需求。

             

            無錫冠亞元器件高低溫測試機(jī)在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

             

             

            型號(hào)KRY-455
            KRY-455W
            KRY-475
            KRY-475W
            KRY-4A10
            KRY-4A10W
            KRY-4A15
            KRY-4A15W
            KRY-4A25
            KRY-4A25W
            KRY-4A38WKRY-4A60W
            溫度范圍-40℃~+100℃
            控溫精度±0.5℃
            溫度反饋Pt100
            溫度顯示0.01k
            流量輸出1~10L/min1~25L/min1~25L/min1~40L/min1~40L/min5~50L/min5~50L/min
            關(guān)于流量說明/當(dāng)溫度低于-30度時(shí),大流量為25L/min當(dāng)溫度低于-30度時(shí),大流量為30L/min
            流量控制精度±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min
            壓力顯示采用江森自控壓力傳感器,觸摸屏上顯示壓力,可進(jìn)行壓力控制調(diào)節(jié) 
            加熱功率5.5kW7.5kW10kW10kW
            選配15kW
            15kW
            選配25kW
            25kW
            選配38kW
            38kW
            選配60kW
            制冷量100℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
            20℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
            0℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
            -20℃2.8kW4.5kW6kW10kW16kW25kW35kW
            -35℃1.2kW1.8kW2.5kW4kW6.5kW10kW15kW
            壓縮機(jī)艾默生谷輪渦旋柔性壓縮機(jī)
            膨脹閥艾默生/丹佛斯熱力膨脹閥
            油分離器艾默生
            干燥過濾器艾默生/丹佛斯
            蒸發(fā)器丹佛斯/高力板式換熱器
            輸入、顯示7寸彩色觸摸屏西門子S7-1200 PLC控制器
            程序編輯可編制10條程序,每條程序可編制40段步驟
            通信CAN通信總線
            安全保護(hù)具有自我診斷功能;冷凍機(jī)過載保護(hù);高壓壓力開關(guān),過載繼電器、熱保護(hù)裝置、低液位保護(hù)、高溫保護(hù)、傳感器故障保護(hù)等多種安全保障功能
            是否為全密閉系統(tǒng)整個(gè)系統(tǒng)為全密閉系統(tǒng),高溫時(shí)不會(huì)有油霧、低溫不吸收空氣中水份,系統(tǒng)在運(yùn)行中不會(huì)因?yàn)楦邷厥箟毫ι仙蜏刈詣?dòng)補(bǔ)充導(dǎo)熱介質(zhì)。
            制冷劑R404A/R507C
            接口尺寸G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4
            水冷型at25度1100L/H1500L/H2000L/H2800L/H4500L/H7000L/H12000L/H
            水冷冷凝器帕麗斯/沈氏套管式換熱器
            風(fēng)冷型冷凝器銅管鋁翅片換熱器(上出風(fēng)形式)
            電源 380V50HZ12kW max15kW max20kW max29kW max42kW max58kW max84kW max
            水冷尺寸cm55*95*17555*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185145*205*205
            風(fēng)冷尺寸cm55*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185  
            重量250kg280kg320kg360kg620kg890kg1300kg
            選配220V 60HZ三相  400V 50HZ三相  440V 60HZ三相
            選配溫度擴(kuò)展到-40℃~+135℃
            選配更高精度控制溫度、流量、壓力
            選配自動(dòng)加注防凍液系統(tǒng)
            選配自動(dòng)液體回收系統(tǒng)

             

            半導(dǎo)體元器件Chiller,無錫冠亞芯片測試

            半導(dǎo)體元器件Chiller,無錫冠亞芯片測試

             ?。ㄒ唬┏S玫臋z測方法

              集成電路常用的檢測方法有在線測量法、非在線測量法和代換法。

              1.非在線測量 非在線測量潮在集成電路未焊入電路時(shí),通過測量其各引腳之間的直流電阻值與已知正常同型號(hào)集成電路各引腳之間的直流電阻值進(jìn)行對(duì)比,以確定其是否正常。

              2.在線測量 在線測量法是利用電壓測量法、電阻測量法及電流測量法等,通過在電路上測量集成電路的各引腳電壓值、電阻值和電流值是否正常,來判斷該集成電路是否損壞。

              3.代換法 代換法是用已知完好的同型號(hào)、同規(guī)格集成電路來代換被測集成電路,可以判斷出該集成電路是否損壞。

              (二)常用集成電路的檢測

            1.微處理器集成電路的檢測 微處理器集成電路的關(guān)鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN晶振信號(hào)輸入端、XOUT晶振信號(hào)輸出端及其他各線輸入、輸出端。

              在路測量這些關(guān)鍵腳對(duì)地的電阻值和電壓值,看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資料中查出)相同。

            不同型號(hào)微處理器的RESET復(fù)位電壓也不相同,有的是低電平復(fù)位,即在開機(jī)瞬間為低電平,復(fù)位后維持高電平;有的是高電平復(fù)位,即在開關(guān)瞬間為高電平,復(fù)位后維持低電平。

            元器件測試用設(shè)備

             

            留言框

            • 產(chǎn)品:

            • 您的單位:

            • 您的姓名:

            • 聯(lián)系電話:

            • 常用郵箱:

            • 省份:

            • 詳細(xì)地址:

            • 補(bǔ)充說明:

            • 驗(yàn)證碼:

              請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果(填寫阿拉伯?dāng)?shù)字),如:三加四=7